เหมาะสำหรับการเตรียมตัวอย่างสำหรับ TEM, SEM รวมถึง LM

Leica EM RES102 เป็นอุปกรณ์บดลำแสงไอออนที่ไม่เหมือนใครพร้อมแหล่งกำเนิดไอออนสนามอานสองแหล่งพลังงานลำแสงไอออนสามารถปรับได้เพื่อให้ได้ผลการบดไอออนที่ดีที่สุด

อุปกรณ์ประเภทเดสก์ท็อปแบบสแตนด์อโลนนี้รวม TEM, SEM และการเตรียมตัวอย่าง LM ไว้ในที่เดียวซึ่งแตกต่างจากอุปกรณ์อื่น ๆ ในตลาด นอกจากการบดไอออนพลังงานสูงแล้ว

นอกจากฟังก์ชั่นแล้ว Leica EM RES102 ยังสามารถใช้ในกระบวนการบดลำแสงไอออนที่อ่อนโยนมากด้วยพลังงานต่ำ

› การบดลำแสงไอออนเดี่ยวหรือสองด้านเหมาะสำหรับกระบวนการลดลำแสงไอออนของวัสดุ แหล่งกำเนิดไอออนของสนามอานสามารถรับลำแสงอิเล็กตรอนขนาดใหญ่ที่มีความโปร่งใสและบาง

> การเปลี่ยนแปลงมุมไอโอนิกของการควบคุมโปรแกรมเหมาะสำหรับการเตรียมตัวอย่างพิเศษเช่นการทำความสะอาดตัวอย่าง FIB เพื่อลดชั้นอสัณฐาน

› ลำแสงไอออนขัดพื้นที่ขัดสูงสุดได้ถึง 25 มม.

› การทำความสะอาดไอออนบีมเหมาะสำหรับการทำความสะอาดชั้นมลพิษบนพื้นผิวตัวอย่างหรือชั้นที่สร้างขึ้นจากพื้นผิวหลังจากการขัดเงาทางกล

> ตัวอย่างการเพิ่มประสิทธิภาพของพื้นผิวซับสามารถทดแทนการกัดกร่อนทางเคมีได้

> การตัดลาด 35 °ใช้สำหรับเตรียมส่วนตัวอย่างหลายชั้น

> การตัดลาด 90 °สำหรับการเตรียมตัวอย่างเซมิคอนดักเตอร์หรืออุปกรณ์ประกอบของโครงสร้างคอมโพสิตวิธีนี้ต้องใช้งานก่อนการประมวลผลเชิงกลน้อยที่สุด

- ขึ้นอยู่กับทางเลือกของคุณ

เพื่อรองรับความต้องการใช้งานที่หลากหลาย Leica EM RES102 สามารถประกอบโต๊ะตัวอย่างได้หลากหลายเพื่อให้เหมาะกับ TEM, SEM และ LM การเตรียมตัวอย่าง ห้องก่อนปั๊ม

ระบบตระหนักถึงการแลกเปลี่ยนตัวอย่างอย่างรวดเร็วเพื่อให้สามารถปรับปรุงประสิทธิภาพการแลกเปลี่ยนตัวอย่างได้อย่างมีประสิทธิภาพ

ตารางตัวอย่างนี้เหมาะสำหรับการทำความสะอาดลำแสงไอออนของตัวอย่าง SEM และ LM การขัดและการปรับปรุงซับสามารถใช้งานได้ในอุณหภูมิแวดล้อมหรือสถานการณ์ทำความเย็น LN2 ตารางตัวอย่าง SEM

ตัวอย่างที่มีขนาดสูงสุดถึง 25 มม. สามารถเตรียมได้ อะแดปเตอร์ใช้สำหรับจับยึดฐานตัวอย่าง SEM ที่มีปลั๊กขนาดเส้นผ่าศูนย์กลาง 3.1 มม. ที่ผลิตในเชิงพาณิชย์

ตารางตัวอย่างการตัดลาดชันเหมาะสำหรับการตัดตัวอย่างเพื่อให้ได้ส่วนตามยาว (90 °) หรือส่วนเอียง (35 °) ซึ่งสะดวกในการสังเกตโครงสร้างตามยาวภายในของตัวอย่างโดย SEM และสามารถใช้งานได้ในอุณหภูมิแวดล้อมหรือสถานการณ์ทำความเย็น LN2 SEM clamp holder to hold small sampleswith maximal dimensions of 5(H) x 7(W) x2(T)mm.This holder can be easily transferredto the SEM without removing the sample.TEM Sample Holder (Quick ClampHolder)for single and double-sided low angle millingdown to 4 °.

ตารางตัวอย่างเกล็ดใช้สำหรับจับตัวอย่างสูงสุด 5 (H) × 7 (W) × 2 (D) มม. ตารางตัวอย่างนี้สามารถถ่ายโอนโดยตรงลงใน SEM โดยไม่ต้องนำตัวอย่างออก

ปิ่น

คลิปตัวอย่าง TEM ใช้สำหรับการลดความบางของลำแสงไอออนเดี่ยวหรือสองด้านมุมลดความบางอาจต่ำถึง 4 °

TEM ตรึงตัวอย่างแช่แข็งใช้ร่วมกับหน่วยทำความเย็น LN2 เพื่อเตรียมตัวอย่างที่ไวต่ออุณหภูมิ

โต๊ะทำความสะอาดตัวอย่าง FIB ใช้สำหรับทำความสะอาดตัวอย่าง FIB ลดชั้นอสัณฐานบนพื้นผิว

Leica EM RES102 ช่วยให้ชิ้นงานมีความหลากหลายและสะดวกสบายในการใช้งาน

> ชุดควบคุมคอมพิวเตอร์หน้าจอสัมผัสขนาด 19 นิ้วตรวจสอบและบันทึกกระบวนการทำตัวอย่าง

› ห้องสมุดพารามิเตอร์แอพพลิเคชันในตัว

> การตั้งค่าพารามิเตอร์การทำตัวอย่างโปรแกรมเพื่อเร่งเส้นโค้งการเรียนรู้สำหรับผู้เริ่มต้น

› ไฟล์ช่วยเหลือช่วยให้ผู้เริ่มต้นเช่นเดียวกับการบำรุงรักษาอุปกรณ์

มีประสิทธิภาพ / ประหยัดค่าใช้จ่าย

› TEM คุณลักษณะ SEM และ LM App รวมอยู่ในหนึ่งเดียว

› พื้นที่บางที่ได้มาจากการเตรียมตัวอย่าง TEM มีขนาดใหญ่ช่วยเพิ่มประสิทธิภาพการเตรียมตัวอย่าง TEM ได้อย่างมีประสิทธิภาพ

> การเตรียมตัวอย่าง SEM สูงสุด 25 มม. เส้นผ่าศูนย์กลางตัวอย่าง

› ระบบห้องสูบน้ำช่วยในการแลกเปลี่ยนตัวอย่างได้อย่างรวดเร็วลดเวลารอคอยและรับประกันสูญญากาศสูงอย่างต่อเนื่องในห้องตัวอย่าง

> ฟังก์ชั่น LAN สะดวกในการควบคุมระยะไกล

> ตารางตัวอย่าง LN2 ทำให้ตัวอย่างที่ไวต่ออุณหภูมิสามารถบดไอออนภายใต้สภาวะที่เหมาะสม

ความปลอดภัย

> ฟังก์ชั่นการยุติอัตโนมัติที่แม่นยำสำหรับการยุติด้วยแสงหรือการยุติถ้วยฟาราเดย์ของตัวอย่างที่โปร่งใส

› สามารถเก็บภาพสดหรือวิดีโอได้ตลอดเวลาในระหว่างการทำตัวอย่าง

> แหล่งกำเนิดไอออนและตัวอย่างการเคลื่อนไหวมอเตอร์ไดรฟ์การควบคุมโปรแกรมจึงสามารถรับผลการทำซ้ำได้